Konsolidert

NEK IEC 60749:1996+A1:2000+A2:2001 CSV

Tilbaketrukket

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made.Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

  • Konsolidert fra NEK
  • Publisert:
  • Tilbaketrukket:
  • Utgave: 2.2
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • Products.Specs.pages
  • ICS 31.080.01
  • National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon