Standard

NEK IEC 60749-4:2002

apr 2002 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 60749-4:2017

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 341,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 426,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Tilbaketrukket NEK IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Corrigendum fra Publiseringsdato: aug 2003 Versjon: 1 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 12. april 2002
Tilbaketrukket: 3. mars 2017
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK IEC 60749-4:2017
Erstattet av: NEK IEC 60749-4:2017
Erstatter: NEK IEC 60749:1996+A1:2000+A2:2001 CSV
Erstatter: NEK IEC 60749-7:2002
Erstatter: NEK IEC PAS 62177:2000
Erstatter: NEK IEC 60749:1996
Adoptert fra: IEC 60749-4:2002

NEK IEC 60749-4:2002

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NEK IEC 60749-4:2017

NEK IEC 60749-4:2017