Standard

NEK IEC 60749-32:2002

aug 2002 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 60749-32:2002+A1:2010 CSV

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 341,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 426,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Publisert NEK IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 Endring fra Publiseringsdato: jul 2010 Versjon: 1 Antall sider: 12 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet
Åpne produkt
Publisert NEK IEC 60749-32:2002/COR1:2003 Corrigendum fra Publiseringsdato: aug 2003 Versjon: 1 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 30. august 2002
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstatter: NEK IEC 60749:1996+A1:2000+A2:2001 CSV
Erstatter: NEK IEC 60749-7:2002
Erstatter: NEK IEC 60749:1996
Adoptert fra: IEC 60749-32:2002

NEK IEC 60749-32:2002

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud