Standard

NEK IEC 60749-11:2002

apr 2002 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 341,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 426,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Defines the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. This test method may also be used, employing fewer cycles, to test the effect of immersion in heated liquids that are used for the purpose of cleaning devices. This test is applicable to all semiconductor devices. It is considered destructive unless otherwise detailed in the relevant specification. The contents of the corrigenda of January 2003 and August 2003 have been included in this copy.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 12. april 2002
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstatter: NEK IEC 60749:1996+A1:2000+A2:2001 CSV
Erstatter: NEK IEC 60749-7:2002
Erstatter: NEK IEC PAS 62185:2000
Erstatter: NEK IEC 60749:1996
Adoptert fra: IEC 60749-11:2002

NEK IEC 60749-11:2002

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud