Standard

NEK IEC 60749-36:2003

feb 2003 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 13. februar 2003
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstatter: NEK IEC 60749:1996+A1:2000+A2:2001 CSV
Erstatter: NEK IEC 60749-7:2002
Erstatter: NEK IEC 60749:1996
Adoptert fra: IEC 60749-36:2003

NEK IEC 60749-36:2003

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud