Standard

NEK IEC 60749-6:2002

apr 2002 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 60749-6:2017

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 171,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 213,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Tilbaketrukket NEK IEC 60749-6:2002/COR1:2003 Corrigendum fra Publiseringsdato: aug 2003 Versjon: 1 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Aims at testing and determining the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 12. april 2002
Tilbaketrukket: 3. mars 2017
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK IEC 60749-6:2017
Erstattet av: NEK IEC 60749-6:2017
Erstatter: NEK IEC 60749:1996+A1:2000+A2:2001 CSV
Erstatter: NEK IEC 60749-7:2002
Erstatter: NEK IEC PAS 62205:2000
Erstatter: NEK IEC 60749:1996
Adoptert fra: IEC 60749-6:2002

NEK IEC 60749-6:2002

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NEK IEC 60749-6:2017

NEK IEC 60749-6:2017