Standard

IEC 61280-2-2:2008 ED3

mar 2008 Revidert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 61280-2-2:2012 ED4

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 2 820,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 3 525,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

This part of IEC 61280 is to describe a test procedure to measure the eye pattern and waveform parameters such as rise time, fall time, overshoot, and extinction ratio. Alternatively, the waveform may be tested for compliance with a predetermined waveform mask. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: - the necessity of DC coupling for extinction ratio measurement is clarified; - the definition of extinction ratio has been revised to better harmonize with ITU-T; and - the definition of OMA has been clarified.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 11. mars 2008
Tilbaketrukket: 25. oktober 2012
Utgave: 3
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831896371

ICS 33.180.01
ISO TC TC 86/SC 86C

Produktrelasjon

Revidert innen: IEC 61280-2-2:2012 ED4
Revideres: IEC 61280-2-2:2005 ED2

IEC 61280-2-2:2008 ED3

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

IEC 61280-2-2:2012 ED4