Standard

IEC 61280-2-2:1998 ED1

Revidert

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 61280-2-2:2012 ED4

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

Describes a test procedure to measure the eye pattern and waveform parameters such as rise time, fall time, overshoot, and extinction ratio. Alternatively, the waveform may be tested for compliance with a predetermined waveform mask.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra IEC
  • Publisert:
  • Tilbaketrukket:
  • Utgave: 1
  • Versjon: 1
  • Varetype: IS
  • Products.Specs.pages
  • ICS 33.180.01
  • ISO TC TC 86/SC 86C

Produktrelasjon

Produkt livssyklus