Standard

IEC 61280-2-2:2005 ED2

apr 2005 Revidert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 61280-2-2:2012 ED4

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 2 820,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 3 525,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Describes a test procedure to measure eye pattern and waveform parameters, such as rise time, fall time, overshoot, and extinction ratio. Alternatively, the waveform may be tested for compliance with a predetermined waveform mask.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 27. april 2005
Tilbaketrukket: 11. mars 2008
Utgave: 2
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831879353

ICS 33.180.01
ISO TC TC 86/SC 86C

Produktrelasjon

Revidert innen: IEC 61280-2-2:2008 ED3
Revideres: IEC 61280-2-2:1998 ED1

IEC 61280-2-2:2005 ED2

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

IEC 61280-2-2:2012 ED4

IEC 61280-2-2:2008 ED3