Standard

IEC TS 62396-2:2008 ED1

aug 2008 Erstattet

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 3 073,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 3 841,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

IEC TS 62396-2:2008 (E) provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Since the testing can be performed in a number of different ways, using different kinds of radiation sources, it also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 19. august 2008
Tilbaketrukket: 27. september 2012
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: TS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831899583

ICS 03.100.50
ICS 31.020
ICS 49.060
ISO TC TC 107

Produktrelasjon

Revidert innen: IEC 62396-2:2017 ED2
Erstattet av: IEC 62396-2:2012 ED1
Erstatter: IEC PAS 62396-2:2007 ED1

IEC TS 62396-2:2008 ED1

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud