Standard

IEC PAS 62396-2:2007 ED1

sep 2007 Erstattet

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 2 382,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 2 977,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 18. september 2007
Tilbaketrukket: 19. august 2008
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: PAS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831892023

ICS 03.100.50
ICS 31.020
ICS 49.060
ISO TC TC 107

Produktrelasjon

Revidert innen: IEC 62396-2:2017 ED2
Erstattet av: IEC TS 62396-2:2008 ED1

IEC PAS 62396-2:2007 ED1

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Extended editions (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus