Standard

IEC 60749-29:2003 ED1

nov 2003 Revidert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 60749-29:2011 ED2

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 2 265,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 2 831,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. The purpose of this test is to establish a method for determining integrated circuit latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Latch-up characteristics are used in determining product reliability and minimizing "No Trouble Found" and "Electrical Overstress" failures due to latch-up.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 4. november 2003
Tilbaketrukket: 7. april 2011
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831872413

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Revidert innen: IEC 60749-29:2011 ED2
Erstatter: IEC PAS 62181:2000 ED1

Produkt livssyklus

Forrige produkt

Erstattet

IEC PAS 62181:2000 ED1
Gjeldende produkt

Revidert

IEC 60749-29:2003 ED1
Steg 99.60
Revidert innen

Publisert

IEC 60749-29:2011 ED2

IEC 60749-29:2003 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

IEC 60749-29:2011 ED2