Standard

IEC PAS 62181:2000 ED1

jul 2000 Erstattet

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 1 833,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 2 291,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Establishes a method for determining IC latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Applicable to NMOS, CMOS, bipolar, and all variations and combinations of these technologies.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 21. juli 2000
Tilbaketrukket: 4. november 2003
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: PAS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831853540

ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Erstattet av: IEC 60749-29:2003 ED1

IEC PAS 62181:2000 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Extended editions Extended editions (0)

Version history Inkluderte rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus