Standard

IEC 60749-23:2004 ED1

Revidert

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 60749-23:2025 ED2

Forhåndsvisning

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra IEC
  • Publisert:
  • Tilbaketrukket:
  • Utgave: 1
  • Versjon: 1
  • Varetype: IS
  • ICS 31.080.01
  • ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Produkt livssyklus