Standard

IEC PAS 62189:2000 ED1

nov 2000 Erstattet

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 319,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 399,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

This test is performed to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over an extended period of time. It is intended primarily for device qualification and reliability monitoring.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 28. november 2000
Tilbaketrukket: 23. februar 2004
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: PAS
ISBN: 2831854679

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Erstattet av: IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Erstattet av: IEC 60749-23:2004 ED1
Adoptert av: NEK ISO/IEC 15955:1999

Produkt livssyklus

Gjeldende produkt

Erstattet

IEC PAS 62189:2000 ED1
Steg 99.60
Erstattet av

Revidert

IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV

Revidert

IEC 60749-23:2004 ED1

IEC PAS 62189:2000 ED1

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus