Konsolidert

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

apr 2002 Erstattet

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 9 258,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 11 573,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

Konsolidert fra IEC
Publisert: 10. april 2002
Tilbaketrukket: 21. mai 2004
Utgave: 2.2
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831860806

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Revideres: IEC 60749:1984 ED1

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement: