Standard

IEC 60749:1984 ED1

des 1984 Revidert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 2 868,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 3 585,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Revidert IEC 60749:1984/AMD2:1993 ED1 Endring fra Publiseringsdato: sep 1993 Versjon: 1 Antall sider: 31 Språk: Engelsk/French Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet
Åpne produkt
Revidert IEC 60749:1984/AMD1:1991 ED1 Endring fra Publiseringsdato: des 1991 Versjon: 1 Antall sider: 33 Språk: Engelsk/French Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 30. desember 1984
Tilbaketrukket: 28. oktober 1996
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831810604

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Revidert innen: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV
Adoptert av: NEK IEC 61478:2001
Revidert innen: IEC 60749:1996 ED2
Erstatter: IEC 60147-5A:1981 ED1
Erstatter: IEC 60147-5:1977 ED1

IEC 60749:1984 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

IEC 60749:1996 ED2