Standard

NS-EN ISO 12179:2022

feb 2022 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 947,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 1 183,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

This document specifies the calibration and adjustment of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration and adjustment is intended to be carried out with the aid of measurement standards. Annex B specifies the calibration and adjustment of metrological characteristics of simplified operator contact (stylus) instruments which do not conform with ISO 3274.

Dokumentinformasjon

Standard fra SN
Publisert: 3. februar 2022
Utgave: 2022-01
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 17.040.30
National Committee CEN/TC 290

Produktrelasjon

Referer: ISO/IEC Guide 98-3:2008
Referer: ISO/IEC Guide 99:2007
Erstatter: NS-EN ISO 12179:2000
Adoptert fra: EN ISO 12179:2022 , 0

Produkt livssyklus

Forrige produkt

Tilbaketrukket

NS-EN ISO 12179:2000

Tilbaketrukket

NS-EN ISO 12179:2000/AC:2008
Gjeldende produkt

Publisert

NS-EN ISO 12179:2022

NS-EN ISO 12179:2022

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud