Standard

NS-EN ISO 10939:2007

jun 2007 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NS-EN ISO 10939:2017

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 574,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 718,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

This International Standard, together with ISO 15004-1 and ISO 15004-2, specifies requirements and test methods for slit-lamp microscopes to provide slit illumination and observation under magnification of the eye and its adnexa. This International Standard is not applicable to microscope accessories, e.g. photographic equipment and lasers. This International Standard takes precedence over ISO 15004-1 and ISO 15004-2, if differences exist.

Dokumentinformasjon

Standard fra SN
Publisert: 1. juni 2007
Tilbaketrukket: 1. oktober 2017
Utgave: 2
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 11.040.70
National Committee CEN/TC 170

Produktrelasjon

Referer: IEC 60601-1:2005+AMD1:2012+AMD2:2020 CSV
Erstattet av: NS-EN ISO 10939:2017
Referer: IEC 60601-1:2005+AMD1:2012 CSV
Referer: IEC 60601-1:2005 ED3
Erstatter: NS-EN ISO 10939:1998
Adoptert fra: EN ISO 10939:2007 , 0

Produkt livssyklus

Forrige produkt

Tilbaketrukket

NS-EN ISO 10939:1998
Gjeldende produkt

Tilbaketrukket

NS-EN ISO 10939:2007
Erstattet av

Publisert

NS-EN ISO 10939:2017

NS-EN ISO 10939:2007

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NS-EN ISO 10939:2017