Standard

NEK IEC 61788-15:2011

okt 2011 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 61788-15:2026

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 4 297,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 5 371,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

IEC 61788-15:2011 describes measurements of the intrinsic surface impedance (Zs) of HTS films at microwave frequencies by a modified two-resonance mode dielectric resonator method. The object of measurement is to obtain the temperature dependence of the intrinsic Zs at the resonant frequency f0.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 24. oktober 2011
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 17.220.20
ICS 29.050
National Committee NEK/NK90

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK IEC 61788-15:2026
Adoptert fra: IEC 60851-6:1996 ED2
Adoptert fra: IEC 61788-15:2011

NEK IEC 61788-15:2011

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NEK IEC 61788-15:2026