Standard

NEK IEC 61163-1:2006

jun 2006 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 5 280,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 6 600,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

This part of IEC 61163 describes particular methods to apply and optimize reliability stress screening processes for lots of repairable hardware assemblies, in cases where the assemblies have an unacceptably low reliability in the early failure period, and when other methods, such as reliability growth programmes and quality control techniques, are not applicable.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 26. juni 2006
Utgave: 2.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 03.120.01
ICS 03.120.30
ICS 21.020
National Committee NEK/NK56

Produktrelasjon

Erstatter: NEK IEC 60300-3-7:1999
Erstatter: NEK IEC 61163-1:1995
Adoptert fra: IEC 61163-1:2006

NEK IEC 61163-1:2006

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud