Standard

NEK IEC 60749-17:2003

feb 2003 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 60749-17:2019

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 344,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 429,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 20. februar 2003
Tilbaketrukket: 28. mars 2019
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK IEC 60749-17:2019
Adoptert fra: IEC 60384-17:1987 ED1
Adoptert fra: IEC 60749-17:2003

NEK IEC 60749-17:2003

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NEK IEC 60749-17:2019