Standard

NEK IEC 60749-16:2003

Publisert

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Utgave: 1.0
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • ICS 31.080.01
  • National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon