Standard

NEK IEC 60333:1993

Tilbaketrukket
Forhåndsvisning Forhåndsvisning er ikke tilgjengelig

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

Applies to semiconductor radiation detectors which are used for the detection and high-resolution spectroscopy of charged particles. The measurement techniques described have been selected to be readily available to all manufacturers and users of semiconductor charged-particle detectors.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Tilbaketrukket:
  • Utgave: 3.0
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • Products.Specs.pages
  • ICS 17.240
  • National Committee TC 45

Produktrelasjon