Standard

NEK EN 60749-29:2003

des 2003 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK EN 60749-29:2011

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 2 468,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 3 085,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. The purpose of this test is to establish a method for determining integrated circuit latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Latch-up characteristics are used in determining product reliability and minimizing No Trouble Found and Electrical Overstress failures due to latch-up.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 15. desember 2003
Tilbaketrukket: 12. mai 2014
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.080
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK EN 60749-29:2011
Adoptert fra: EN 60749-29:2003 , 0

NEK EN 60749-29:2003

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NEK EN 60749-29:2011