Standard

IEC PAS 62177:2000 ED1

aug 2000 Erstattet

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 336,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 420,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

The highly-accelerated temperature and humidity stress test is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. It employs severe conditions of temperature, humidity, and bias which accelerate the penetration of moisture through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors which pass through it.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 24. august 2000
Tilbaketrukket: 1. juli 2002
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: PAS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831853508

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Erstattet av: IEC 60749-4:2002 ED1

IEC PAS 62177:2000 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Extended editions Extended editions (0)

Version history Inkluderte rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus