Standard

IEC 60749-4:2002 ED1

apr 2002 Revidert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 60749-4:2017 ED2

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 336,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 420,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Revidert IEC 60749-4:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum fra Publiseringsdato: aug 2003 Versjon: 1 Språk: Engelsk/French Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 12. april 2002
Tilbaketrukket: 3. mars 2017
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831862892

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Revidert innen: IEC 60749-4:2017 ED2
Erstatter: IEC PAS 62177:2000 ED1
Erstatter delvis: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-4:2002 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

IEC 60749-4:2017 ED2