Standard

IEC 60749-32:2002 ED1

aug 2002 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV

Forhåndsvisning Ekstern lenke

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 336,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Publisert IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 ED1 Endring fra Publiseringsdato: jul 2010 Versjon: 1 Språk: Engelsk, Engelsk/French Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet
Åpne produkt
Publisert IEC 60749-32:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum fra Publiseringsdato: aug 2003 Versjon: 1 Språk: Engelsk/French Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 30. august 2002
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Erstatter delvis: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-32:2002 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV