Standard

NS-EN ISO 5579:2013

mar 2014 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 780,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 975,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

This International Standard specifies the basic rules for industrial X- and gamma radiography for flaw detection purposes, using film techniques, applicable to metallic products and materials.

Dokumentinformasjon

Standard fra SN
Publisert: 1. mars 2014
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 77.040.20
National Committee SN/K 58

Produktrelasjon

Erstatter: NS-EN 444:1994
Adoptert fra: EN ISO 5579:2013, 0

NS-EN ISO 5579:2013

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud