Standard

NS-EN ISO 17526:2003

sep 2003 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 772,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 965,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

ISO 17526:2003 covers terms and definitions as well as test methods and evaluation procedures to characterize, estimate and predict the longterm behaviour of various types of lasers.It defines terms for the lifetime of lasers and specifies test procedures and fundamental aspects for the determination of lifetime. It applies for all types of lasers for which lifetime is a critical issue, including diode lasers except those used in telecommunications.

Dokumentinformasjon

Standard fra SN
Publisert: 10. september 2003
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.260
National Committee CEN/TC 123

Produktrelasjon

Referer: IEC 61703:2001 ED1
Referer: IEC 60050-191:1990 ED1
Adoptert fra: EN ISO 17526:2003 , 0

NS-EN ISO 17526:2003

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon