Standard

NEK IEC PAS 62396-2:2007

sep 2007 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 2 468,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 3 085,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 18. september 2007
Tilbaketrukket: 19. august 2008
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: PAS
ISBN:

ICS 03.100.50
ICS 31.020
ICS 49.060
National Committee NEK/NK107

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK IEC 62396-2:2017
Adoptert fra: IEC 60794-1-1:2015 RLV
Adoptert fra: IEC 60794-1-1:2015 ED4
Erstattet av: NEK IEC TS 62396-2:2008
Adoptert fra: IEC PAS 62396-2:2007

NEK IEC PAS 62396-2:2007

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon