Standard

NEK IEC 62374:2007

Publisert

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Utgave: 1.0
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • ICS 31.080.99
  • National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

  • Adoptert fra: IEC 62374:2007