Standard

NEK EN 62374-1:2010

des 2010 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 1 303,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 1 629,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Åpne produkt

Vennligst vent

Omfang

IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 1. desember 2010
Utgave: 2010-11
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.080
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Adoptert fra: EN 62374-1:2010 , 0

NEK EN 62374-1:2010

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (1)

NEK EN 62374-1:2010/AC:2011

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon