Standard

NEK EN 61788-15:2011

jan 2012 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 4 297,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 5 371,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

IEC 61788-15:2011 describes measurements of the intrinsic surface impedance (Zs) of HTS films at microwave frequencies by a modified two-resonance mode dielectric resonator method. The object of measurement is to obtain the temperature dependence of the intrinsic Zs at the resonant frequency f0.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 1. januar 2012
Utgave: 2011-12
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

National Committee NEK/NK90
ICS 29.050

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK EN IEC 61788-15:2026
Referer: NEK EN 61788-7:2006
Referer: IEC 60050-815:2000 ED1
Adoptert fra: EN 61788-15:2011 , 0

NEK EN 61788-15:2011

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon