Standard

IEC 61000-4-17:1999 ED1

jun 1999 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV

Forhåndsvisning Ekstern lenke

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 1 267,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Publisert IEC 61000-4-17:1999/AMD2:2008 ED1 Endring fra Publiseringsdato: nov 2008 Versjon: 1 Språk: Engelsk, Engelsk/French Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet
Åpne produkt
Publisert IEC 61000-4-17:1999/AMD1:2001 ED1 Endring fra Publiseringsdato: jul 2001 Versjon: 1 Språk: Engelsk, Engelsk/French Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Defines test methods for immunity to ripple at the d.c. input power port of electrical or electronic equipment. Applies to low-voltage d.c. power ports of equipment supplied by external rectifier systems, or batteries which are being charged. This standard defines - test voltage waveform; - range of test levels; - test generator; - test set-up; - test procedure.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 9. juni 1999
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 33.100.20
ISO TC TC 77/SC 77A

Produktrelasjon

Adoptert av: NEK IEC 62271-100:2008+A1:2012 CSV

IEC 61000-4-17:1999 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV

IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001 CSV