Standard

IEC 60749-7:2002 ED1

apr 2002 Revidert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: IEC 60749-7:2011 ED2

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 336,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 420,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Revidert IEC 60749-7:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum fra Publiseringsdato: aug 2003 Versjon: 1 Språk: Engelsk/French Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Aims at testing and measuring the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. Applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 9. april 2002
Tilbaketrukket: 17. juni 2011
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831862760

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Revidert innen: IEC 60749-7:2011 ED2
Erstatter delvis: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-7:2002 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

IEC 60749-7:2011 ED2