Standard

IEC 60748-11:1990 ED1

des 1990 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 3 542,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 4 427,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Åpne produkt

Vennligst vent
Åpne produkt

Vennligst vent

Omfang

Applies to encapsulated semiconductor integrated circuits, including multichip integrated circuits, but excluding hybrid circuits. Gives details of the Quality Assessment Procedures, the inspection requirements, screening sequences, sampling requirements, test and measurement procedures required for the assessment of semiconductor integrated circuits, including digital, analogue and interface circuits.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 20. desember 1990
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
ISBN: 2831819237

ICS 31.200
ISO TC TC 47/SC 47A

Produktrelasjon

Adoptert av: NEK IEC 61443:1999+A1:2008 CSV

IEC 60748-11:1990 ED1

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (2)

IEC 60748-11:1990/AMD2:1999 ED1

IEC 60748-11:1990/AMD1:1995 ED1

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon