Standard

IEC 60747-11:1985 ED1

jan 1985 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 1 741,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 2 176,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Åpne produkt

Vennligst vent
Åpne produkt

Vennligst vent

Omfang

Applies to discrete semiconductor devices, excluding optoelectronic devices. Should be read together with the generic specification to which it refers: it gives details of the Quality Assessment Procedures, the inspection requirements, screening sequences, sampling requirements, test and measurement procedures required for the assessment of semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 1. januar 1985
Tilbaketrukket: 31. juli 2015
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
ISBN: 2831811058

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47/SC 47E

Produktrelasjon

Adoptert av: NEK IEC 61375-2-1:2012

IEC 60747-11:1985 ED1

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (2)

IEC 60747-11:1985/AMD2:1996 ED1

IEC 60747-11:1985/AMD1:1991 ED1

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon