Standard

ASTM F1192:11(2018)

mar 2018 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: ASTM F1192:24

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 1 772,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 2 215,00

Open

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices Tilbaketrukket ASTM F1192:11(2018) RLV Redline Publiseringsdato: mar 2018 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet
Open

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices Tilbaketrukket ASTM F1192:11 RLV Redline Publiseringsdato: okt 2011 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Dokumentinformasjon