Standard

NEK IEC PAS 62203:2000

nov 2000 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 344,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 429,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Applies to double- and single-column arrays of metal probe pads, on a semiconductor wafer or chip, that are electrically connected to one or more test structures.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 28. november 2000
Tilbaketrukket: 17. mai 2004
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: PAS
ISBN:

ICS 31.080.01
Nasjonal komité NEK/NK47

Produktrelasjon

Adoptert fra: IEC 62841-2-5:2014+AMD1:2025 CSV
Adoptert fra: IEC 62841-2-5:2014 ED1
Adoptert fra: IEC PAS 62203:2000

NEK IEC PAS 62203:2000

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon