Standard

NEK IEC PAS 62189:2000

Tilbaketrukket

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

This test is performed to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over an extended period of time. It is intended primarily for device qualification and reliability monitoring.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Tilbaketrukket:
  • Utgave: 1.0
  • Versjon: 1
  • Varetype: PAS
  • Products.Specs.pages
  • ICS 31.080.01
  • National Committee TC 47

Produktrelasjon