Det er for tiden ikke mulig å bestille standarder i trykket og innbundet versjon. Dette skyldes utfordringer knyttet til vår trykkerileverandør. Vi arbeider med å løse situasjonen og beklager ulempene dette medfører. For andre løsninger, kontakt salg@standard.no.
Standard

NEK IEC 62433-3:2017

Publisert
Forhåndsvisning

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

IEC 62433-3:2017 provides a method for deriving a macro-model to allow the simulation of the radiated emission levels of an Integrated Circuit (IC). This model is commonly called Integrated Circuit Emission Model - Radiated Emission, ICEM-RE.  The model is intended to be used for modelling a complete IC, with or without its associated package, a functional block and an Intellectual Property (IP) block of both analogue and digital ICs (input/output pins, digital core and supply), when measured or simulated data cannot be directly imported into simulation tools.  

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Utgave: 1.0
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • ICS 31.200
  • ICS 33.100.10
  • National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

  • Adoptert fra: IEC 62433-3:2017 , 0