Standard

NEK IEC 61788-3:2000

des 2000 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 61788-3:2006

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 2 468,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 3 085,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Covers a test method for the determination of the d.c. critical current of short and straight Ag- or Ag alloy-sheathed Bi-2212 and Bi-2223 oxide superconductors that have a monolithic structure and a shape of round wire or flat or square tape containing mono- or multicores of oxides.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 14. desember 2000
Tilbaketrukket: 27. april 2006
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 17.220.20
ICS 29.050
National Committee NEK/NK90

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK IEC 61788-3:2006
Adoptert fra: IEC 61788-3:2000

NEK IEC 61788-3:2000

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NEK IEC 61788-3:2006