Standard

NEK IEC 60759:1983

jan 1983 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 4 297,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 5 371,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Åpne produkt

Vennligst vent

Omfang

Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 1. januar 1983
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 17.240
National Committee TC 45

Produktrelasjon

Adoptert fra: IEC 60397:1994 ED2
Adoptert fra: IEC 60759:1983

NEK IEC 60759:1983

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud