Konsolidert

NEK IEC 60115-1:1999+AMD1:2001 CSV

mai 2001 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 60115-1:2020

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 6 238,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 7 798,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Establishes standard terms, inspection procedures and methods of test for use in sectional and detail specifications of electronic components for quality assessment or any other purpose. This consolidated version consists of the third edition (1999) and its amendment 1 (2001). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication.

Dokumentinformasjon

Konsolidert fra NEK
Publisert: 28. mai 2001
Tilbaketrukket: 5. januar 2011
Utgave: 3.1
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.040.10
National Committee NEK/NK40

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK IEC 60115-1:2008
Erstattet av: NEK IEC 60115-1:2008

NEK IEC 60115-1:1999+AMD1:2001 CSV

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

NEK IEC 60115-1:2020

NEK IEC 60115-1:2008

NEK IEC 60115-1:2008