Standard

NEK EN IEC 61189-3-302:2025

Publisert

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

IEC 61189-3-302:2025 describes a method for the detection of plating defects in unpopulated circuit boards using computed tomography (CT).This document is applicable to non-destructive testing of metallized holes.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Utgave: 2025-11
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • ICS 31.180
  • National Committee NEK/NK91

Produktrelasjon