Endring

NEK EN 60749-23:2004/A1:2011

apr 2011 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK EN 60749-23:2004

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 172,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 215,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Dokumentinformasjon

Endring fra NEK
Publisert: 1. april 2011
Utgave: 2011-03
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.080.01
Nasjonal komité NEK/NK47

Produktrelasjon

Endrer: NEK EN 60749-23:2004
Erstattet av: NEK EN IEC 60749-23:2026
Referert av: NEK EN 62047-4:2010
Adoptert fra: EN 60749-23:2004/A1:2011 , 0

NEK EN 60749-23:2004/A1:2011

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon