Det er for tiden ikke mulig å bestille standarder i trykket og innbundet versjon. Dette skyldes utfordringer knyttet til vår trykkerileverandør. Vi arbeider med å løse situasjonen og beklager ulempene dette medfører.
Standard

Beklager, dette produktet er ikke lenger tilgjengelig

JEDEC JESD22-A108F

Tilbaketrukket
For bestilling og priser av dette produktet ta kontakt med salg@standard.no

Omfang

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices? operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as burn-in, may be used to screen for infant mortality related failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this document.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra JEDEC
  • Publisert:
  • Versjon: 0
  • Varetype: IS