Standard

JEDEC JESD22-A108F

jul 2017 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Dette produktet er ikke tilgjengelig for enkeltkjøp

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices? operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as burn-in, may be used to screen for infant mortality related failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this document.

Dokumentinformasjon

Standard fra JEDEC
Publisert: 1. juli 2017
Versjon: 0
Varetype: IS
Products.Specs.pages
ISBN:

Produktrelasjon

Erstattet av: JEDEC JESD22-A108G
Erstatter: JEDEC JESD22-A108E

JEDEC JESD22-A108F

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud