Standard

JEDEC JESD 22-A108C

Tilbaketrukket
Forhåndsvisning Forhåndsvisning er ikke tilgjengelig
Dette produktet er ikke tilgjengelig for enkeltkjøp

Omfang

A revised method for determining the effects of bias conditions and temperature, over time, on solid state devices is now available. Revision B of A108 includes low temperature operating life (LTOL) and high temperature gate bias (HTGB) stress conditions, revised cool down requirements for high temperature stress, and a procedure to follow if parts are not tested within the allowed time window.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra JEDEC
  • Publisert:
  • Versjon: 0
  • Varetype: IS
  • Products.Specs.pages

Produktrelasjon