Standard

IEC PAS 62205:2000 ED1

nov 2000 Erstattet

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 168,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 210,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Aims at determining the effect on solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered destructive.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 28. november 2000
Tilbaketrukket: 1. juli 2002
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: PAS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831854814

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Erstattet av: IEC 60749-6:2002 ED1

IEC PAS 62205:2000 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Extended editions Extended editions (0)

Version history Inkluderte rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus